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技術(shù)文章

2025
7-21

便攜式合金分析儀的工作原理：XRF與LIBS技術(shù)對(duì)比
便攜式合金分析儀的核心技術(shù)以X射線(xiàn)熒光光譜（XRF）與激光誘導(dǎo)擊穿光譜（LIBS）為主，二者在原理、應(yīng)用場(chǎng)景及性能上存在顯著差異。XRF技術(shù)基于元素特征熒光效應(yīng)，通過(guò)X射線(xiàn)管發(fā)射高能X射線(xiàn)激發(fā)樣品原子內(nèi)層電子，外層電子躍遷填補(bǔ)空位時(shí)釋放特定能量的二次X射線(xiàn)（熒光）。探測(cè)器捕獲熒光能量后，與內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)比對(duì)實(shí)現(xiàn)元素定性定量分析。該技術(shù)優(yōu)勢(shì)在于無(wú)損檢測(cè)，無(wú)需樣品預(yù)處理，檢測(cè)范圍覆蓋鈦、釩等21種元素，精度達(dá)0.03%-0.5%。例如，奧林巴斯Axon系列采用硅漂移探測(cè)器（SDD）與...
2025
7-16

FIB雙束電鏡在集成電路失效分析中的應(yīng)用
FIB雙束電鏡是一種集成了聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡（SEM）技術(shù)的復(fù)合型儀器。該儀器在集成電路（IC）失效分析中具有重要的應(yīng)用價(jià)值，能夠?qū)﹄娮釉?nèi)部的結(jié)構(gòu)和失效機(jī)理進(jìn)行深入的研究與分析。集成電路失效分析的核心任務(wù)是確定電路或芯片失效的根本原因，分析過(guò)程通常需要對(duì)芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行深入剖析。FIB雙束電鏡在這一過(guò)程中提供了許多重要的技術(shù)支持，具體應(yīng)用如下：1、電路故障定位與剖析集成電路的故障通常由微小的物理?yè)p傷、連接斷裂、污染或過(guò)熱等原因引起。它能夠通過(guò)聚焦離子束對(duì)...
2025
7-13

sem掃描電鏡在微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析中的重要性
sem掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面，通過(guò)探測(cè)二次電子或反射電子的信號(hào)，生成高分辨率圖像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡相比，它具有更高的放大倍率、更強(qiáng)的深度景深和更廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，尤其在微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析中展現(xiàn)出巨大的優(yōu)勢(shì)。sem掃描電鏡在微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析中的重要性，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：1、高分辨率與細(xì)節(jié)呈現(xiàn)最大的優(yōu)勢(shì)之一是其很高的分辨率，通常能夠達(dá)到納米級(jí)別，遠(yuǎn)高于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡的分辨率。通過(guò)掃描電子束，能夠呈現(xiàn)出樣品表面最細(xì)微的結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，例如微小的裂紋、孔隙、表面形貌、...
2025
7-11

電鏡應(yīng)用|鋼中復(fù)雜氧化物-硫化物-氮化物夾雜物的自動(dòng)化SEM- EDS分析與相分析案例
熔融鐵幾乎是一種通用溶劑，能夠輕松溶解鉻、鉬和鎢等金屬，從而制造各種有價(jià)值的合金。然而，這一特性也可能是一把雙刃劍，因?yàn)樵趯㈣F煉成鋼的過(guò)程中，必須謹(jǐn)慎控制氧、硫和氮等元素。這些輕元素在合金鋼中的溶解度較低，在精煉和熱軋過(guò)程中，容易形成不利的反應(yīng)產(chǎn)物（即夾雜物）。這些生成的氧化物、硫化物和氮化物的微小夾雜物無(wú)法通過(guò)簡(jiǎn)單的浮選去除，從而成為最終鋼材的永久組成部分，影響其機(jī)械性能和質(zhì)量。PART01背景簡(jiǎn)介生產(chǎn)鋼材的過(guò)程中涉及極高的溫度和高度氧化的環(huán)境。高爐-氧氣轉(zhuǎn)爐一體化工藝和電...
2025
7-10

FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應(yīng)用
FEI掃描電鏡是一種廣泛應(yīng)用于納米材料表征的重要工具。由于其高分辨率和精確的圖像能力，在納米尺度材料的表面形貌、結(jié)構(gòu)以及其他物理化學(xué)性質(zhì)的研究中發(fā)揮了重要作用。下面將詳細(xì)介紹FEI掃描電鏡在納米材料表征中的應(yīng)用。一、高分辨率表征它利用電子束掃描樣品表面，能夠產(chǎn)生高分辨率的圖像，這對(duì)于研究納米材料的表面形貌和微觀(guān)結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。由于電子束的波長(zhǎng)遠(yuǎn)小于可見(jiàn)光，因此能夠清晰地觀(guān)察到納米尺度上的細(xì)節(jié)，如單個(gè)納米顆粒、納米管、納米線(xiàn)等。分辨率可以達(dá)到納米級(jí)，甚至亞納米級(jí)，這使得它能夠清晰...
2025
7-7

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的原理與技術(shù)創(chuàng)新
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一種利用場(chǎng)發(fā)射技術(shù)來(lái)產(chǎn)生高亮度、穩(wěn)定的電子束，用于觀(guān)察樣品表面形貌和成分的顯微分析儀器。它是掃描電鏡（SEM）的一種改進(jìn)版本，具有高分辨率、高靈敏度以及高圖像質(zhì)量的優(yōu)勢(shì)。一、基本原理場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡與傳統(tǒng)的掃描電鏡（SEM）原理相似，都是通過(guò)電子束掃描樣品表面并獲得二次電子、反射電子和X射線(xiàn)等信號(hào)來(lái)形成圖像。它使用的是場(chǎng)發(fā)射電子槍而非熱發(fā)射電子槍?zhuān)@是其主要的區(qū)別。1、場(chǎng)發(fā)射電子槍它采用的是場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)‵EG），其原理是利用強(qiáng)電場(chǎng)從非常細(xì)的金屬針尖上拉出電子。...
2025
6-25

手持式合金分析儀在金屬制造業(yè)的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)
在金屬制造業(yè)中，手持式合金分析儀憑借其快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的特點(diǎn)，成為的檢測(cè)工具。應(yīng)用方面：原材料檢驗(yàn)：在原材料采購(gòu)和入庫(kù)環(huán)節(jié)，手持式合金分析儀能夠快速檢測(cè)金屬材料的化學(xué)成分，確保原材料符合生產(chǎn)要求，避免因材料問(wèn)題導(dǎo)致的生產(chǎn)延誤和成本增加。生產(chǎn)過(guò)程監(jiān)控：在生產(chǎn)過(guò)程中，該儀器可實(shí)時(shí)監(jiān)控金屬材料的成分變化，及時(shí)發(fā)現(xiàn)并調(diào)整生產(chǎn)工藝中的偏差，確保產(chǎn)品質(zhì)量穩(wěn)定。成品檢測(cè)：在成品出廠(chǎng)前，手持式合金分析儀可對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行最終的質(zhì)量檢測(cè)，確保產(chǎn)品符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和客戶(hù)要求。優(yōu)勢(shì)方面：快速檢測(cè)：手持式合金...
2025
6-19

便攜式合金分析儀的維護(hù)與保養(yǎng)
便攜式合金分析儀是工業(yè)檢測(cè)中常用的設(shè)備，可快速、準(zhǔn)確地分析金屬材料的成分。為確保其性能穩(wěn)定、延長(zhǎng)使用壽命，需采取以下維護(hù)與保養(yǎng)措施：1.日常清潔檢測(cè)窗口清潔：檢測(cè)窗口是分析儀的核心部件，需保持清潔。每次使用后，用柔軟的無(wú)塵布輕輕擦拭，去除表面灰塵或污漬。避免使用尖銳物品刮擦，以防損壞窗口。外殼清潔：定期用濕布擦拭分析儀外殼，去除灰塵和污垢。避免使用強(qiáng)酸、強(qiáng)堿或有機(jī)溶劑，防止外殼腐蝕或褪色。2.定期校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)：按照儀器說(shuō)明書(shū)的要求，定期使用標(biāo)準(zhǔn)樣品對(duì)分析儀進(jìn)行校準(zhǔn)，確保檢...
2025
6-14

鎢燈絲掃描電鏡的維護(hù)與保養(yǎng)技巧
鎢燈絲掃描電鏡是用于觀(guān)察微觀(guān)物體表面及其結(jié)構(gòu)的高精度設(shè)備，其性能與穩(wěn)定性在許多研究領(lǐng)域中至關(guān)重要。鎢燈絲作為電子槍的核心組件，其質(zhì)量和使用狀態(tài)直接影響其工作效率和圖像質(zhì)量。因此，正確的維護(hù)與保養(yǎng)尤為重要，下面是一些鎢燈絲掃描電鏡的維護(hù)與保養(yǎng)技巧。1、保持清潔環(huán)境工作時(shí)，電子槍會(huì)發(fā)射高能電子束，因此設(shè)備的清潔環(huán)境至關(guān)重要。為避免灰塵和污垢積聚，必須保持實(shí)驗(yàn)室環(huán)境的清潔度。應(yīng)置于通風(fēng)良好、濕度適中的房間，避免高溫、潮濕或過(guò)于干燥的環(huán)境，這些因素可能導(dǎo)致鎢燈絲的提前老化。定期清理設(shè)...
2025
6-11

賽默飛掃描電鏡的技術(shù)原理與應(yīng)用解析
賽默飛掃描電鏡是一種利用電子束掃描樣品表面并通過(guò)分析反射電子來(lái)獲取表面形貌、成分以及微觀(guān)結(jié)構(gòu)信息的顯微鏡技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域。一、技術(shù)原理賽默飛掃描電鏡的工作原理基于電子束與樣品相互作用的物理過(guò)程。當(dāng)電子束打到樣品表面時(shí)，樣品會(huì)發(fā)生多種反應(yīng)，包括彈性散射、非彈性散射、二次電子的發(fā)射、X射線(xiàn)的發(fā)射等。通過(guò)收集這些反射或發(fā)射的信號(hào)，能夠提供高分辨率的表面形貌和元素組成信息。二、應(yīng)用領(lǐng)域賽默飛掃描電鏡在許多領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，特別是在材料科學(xué)、生命科...

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